高速・高精度欠陥検査システム「NF-ISシリーズ」 「NF-ISシリーズ」は、PCベースの拡張性に優れた高速・高精度な検査システムです。CameraLink規格に対応した高速ラインセンサカメラと、独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、高速・高分解能・高精度での検査を実現[…]
コンパクト 表面欠陥検査システム KE-XGCシリーズ 「KE-XGCシリーズ」は、キーエンス社の画像処理装置を搭載したコンパクトな検査システムです。タッチパネルやコンソールのみで設定や操作が可能で、PCレスによりコンパクト化を実現しました。設置スペースに制限のある環境での導入や、コストパフォー[…]
次世代マルチ 表面欠陥検査システム「ZD-CF/MVCシリーズ」 「ZD-CF/MVCシリーズ」は、PCベースの拡張性に優れたマルチ検査システムです。カメラ解像度が4Kや8K、モノクロ(CF)または、カラー(MVC)の豊富なバリエーションの中から選択可能なラインセンサカメラと、独自開発の高信頼性画像処理ソ[…]
次世代高機能表面欠陥検査システム KE-XGXMシリーズ 「KE-XGXMシリーズ」は、キーエンス社の画像処理装置を搭載した高機能検査システムです。24時間365日の稼働に耐える強靭なハードウェアにより、安定した高いパフォーマンスと、トータルシステムとしての完成度でお客様の問題解決に貢献します。ま[…]
次世代マルチ検査システム ZD-CFシリーズ 豊富なバリエーションの中から選択可能なラインセンサカメラと、独自開発の高信頼性画像処理ソフトウェアを組み合わせることで、高精度の欠陥検査を実現。 拡張性と自由度の高いカスタマイズをご提案。
次世代検査装置 KE-XGシステム <機能> KE/XGシステムは、多彩な画像処理機能を搭載した“次世代”の検査装置です。不織布、布、食品といったさまざまな製品の検査に対応している他、ファンレス・PCレス設計によって保守性の高い検査が可能となっています。