ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】

大塚電子株式会社 戦略企画室

 

 

 

<機能>

インラインでのフィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。
独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせることで、最短0.01秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの膜厚測定が可能です。

<特徴>

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全幅・全長フィルム検査を実現
ハード・ソフト共にオリジナル設計
膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
高精度に測定が可能(特許取得)
高速に測定が可能
バタつきに強い
幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能)

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