フィルムの膜厚をインラインで全面測定

高精度 ・ 高速、 バタつきに強い 「ラインスキャン膜厚計」 を新発売

大塚電子株式会社 （本社 ： 大阪府枚方市、 代表取締役社長 田口 賢）は、フィルムやフィルムコート膜の膜厚をインラインで全幅 ・ 全長測定する「ラインスキャン膜厚計」 を12 月 5 日に発売いたします。また、12月5日から7日の期間で開催される「高機能フィルム展」(会場 ： 幕張メッセ）に実機を展示します。